陶瓷薄膜檢測,陶瓷薄膜電阻率測試機構
陶瓷薄膜是指用特殊工藝技術,將陶瓷材料制成厚度在幾微米以下而仍能保持陶瓷優越性能的一類陶瓷材料。所制成的薄膜器件用于集成電路、半導體電路技術中。
GB/T 30707-2014精細陶瓷涂層結合力試驗方法 劃痕法
JIS R1689-2011脈沖光熱反射法測定精細陶瓷薄膜的熱擴散性
SJ 21528-2018多層共燒陶瓷薄膜金屬化表層電鍍工藝技術要求
JC/T 2409-2017精細陶瓷薄膜結合力測試方法
JIS R1635-1998精細陶瓷薄膜的透光率試驗方法
JIS R1636-1998精細陶瓷薄膜厚度的試驗方法-用觸針式表面粗度計測定法
JIS R1637-1998測量精細陶瓷薄膜電阻率的試驗方法-用四點探針測定法
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機非金屬陶瓷薄膜、有機陶瓷薄膜、復合陶瓷薄膜等。
厚度測量、光學性質測試、表面粗糙度檢測、物理力學性能測試、化學成分分析、結構分析等。
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(1)檢測報告應反映信息的真實一致性
包括委托委托單位或委托人、材料樣品、檢測條件和依據、檢測結果和結論、需要說明的問題、審核與批準、有效性聲明等。
(2)檢測報告基本格式注意點
主要由封面、扉頁、報告主頁、附件組成。各部分一般包括檢測報告名稱、編號、檢測類性、委托項目、檢驗檢測機構名稱、報告發出時間、檢驗檢測機構的地址、聯系方式等。
(3)檢測報告結論注意點
結論應明確是否符合規定要求或是否合格,明確是否符合設計要求、是否合格應由委托單位根據樣品批的總體檢測結果統計分析后自己給出。