客戶背景

一企業(yè)客戶繼上次測試顯微紅外又繼續(xù)送樣。

樣品名稱

塊狀的芯片

客戶需求

需要根據(jù)客戶提供的定位圖片進(jìn)行準(zhǔn)確的找點(diǎn)，測試微區(qū)的紅外圖譜。

總共有樣品D（1顆）、樣品E（1顆）、樣品F（1顆），共三個樣品需要進(jìn)行顯微紅外光譜的測試。

解決方案

溝通客戶寄送樣品，實(shí)驗(yàn)室接收到樣品后進(jìn)行長時間的觀察找點(diǎn)。測試完后將數(shù)據(jù)發(fā)給客戶。

樣品D：

芯片正中間有一個圓形開孔，顯微鏡照片如圖所示。開孔中有一個八邊形區(qū)域，此區(qū)域?yàn)榇郎y區(qū)域，尺寸大約為300um * 300um。實(shí)際的測試點(diǎn)取這個八邊形區(qū)域內(nèi)靠中心區(qū)域的點(diǎn)，例如藍(lán)色框標(biāo)示的點(diǎn)。

樣品E：

芯片中間靠上有一個矩形開孔，顯微鏡照片如圖所示。開孔中有一個矩形區(qū)域，此區(qū)域?yàn)榇郎y區(qū)域，尺寸大約為300um * 300um。實(shí)際的測試點(diǎn)取這個矩形區(qū)域內(nèi)靠中心區(qū)域的點(diǎn)，例如藍(lán)色框標(biāo)示的點(diǎn)。

樣品F：

芯片中間靠上有一個圓形開孔，顯微鏡照片如圖所示。開孔中有一個圓形區(qū)域，此區(qū)域?yàn)榇郎y區(qū)域，尺寸大約為300um * 300um。實(shí)際的測試點(diǎn)取這個圓形區(qū)域內(nèi)半圓區(qū)域中的點(diǎn)，例如藍(lán)色框標(biāo)示的點(diǎn)。

客戶反饋

客戶查看數(shù)據(jù)后對數(shù)據(jù)質(zhì)量滿意。